产物资料
液晶基板表面质量检查高照度检查灯
产物名称: 液晶基板表面质量检查高照度检查灯
产物型号: YP-150ID
产物特点: 液晶基板表面质量检查高照度检查灯日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备，主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数：主要特点：超高亮度：样品表面照度可达 400,000 Lx 以上，能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。冷镜技术：采用冷镜减少热影响，热效应仅为传统铝镜的 1/3，有效保护样品和设备 。色温高：卤素灯色温达 3,40
液晶基板表面质量检查高照度检查灯 的详细介绍
液晶基板表面质量检查高照度检查灯
液晶基板表面质量检查高照度检查灯
日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备，主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数：
主要特点：
- 超高亮度：样品表面照度可达 400,000 Lx 以上，能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。
- 冷镜技术：采用冷镜减少热影响，热效应仅为传统铝镜的 1/3，有效保护样品和设备。
- 色温高：卤素灯色温达 3,400K，照明稳定、锐利，适合高精度检测。
- 两段式切换：支持一键切换高照度与低照度观察模式，适应不同检测需求 。
技术参数（驰笔-150滨顿）：
| 项目 | 参数值 |
|---|---|
| 照射直径 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距离 | 140 mm |
| 灯泡型号 | 闯颁搁15痴150奥（牛尾） |
| 灯泡寿命 | 35–50 小时 |
| 色温 | 3,400 K |
| 冷却方式 | 强制风扇冷却 |
| 尺寸（灯屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（灯屋部分） | 约 1.7 kg |
| 电源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 约 200W |
应用场景：
- 半导体晶圆表面缺陷检测（如划痕、异物、雾度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面质量检查；
- 适用于 6 英寸及以下尺寸样品的检查 。
YP-150ID 是精密制造行业中用于高亮度照明检测的理想选择，尤其适合对微小缺陷有高灵敏度要求的场合。
日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备，主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数：
主要特点：
- 超高亮度：样品表面照度可达 400,000 Lx 以上，能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。
- 冷镜技术：采用冷镜减少热影响，热效应仅为传统铝镜的 1/3，有效保护样品和设备。
- 色温高：卤素灯色温达 3,400K，照明稳定、锐利，适合高精度检测。
- 两段式切换：支持一键切换高照度与低照度观察模式，适应不同检测需求 。
技术参数（驰笔-150滨顿）：
| 项目 | 参数值 |
|---|---|
| 照射直径 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距离 | 140 mm |
| 灯泡型号 | 闯颁搁15痴150奥（牛尾） |
| 灯泡寿命 | 35–50 小时 |
| 色温 | 3,400 K |
| 冷却方式 | 强制风扇冷却 |
| 尺寸（灯屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（灯屋部分） | 约 1.7 kg |
| 电源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 约 200W |
应用场景：
- 半导体晶圆表面缺陷检测（如划痕、异物、雾度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面质量检查；
- 适用于 6 英寸及以下尺寸样品的检查 。
YP-150ID 是精密制造行业中用于高亮度照明检测的理想选择，尤其适合对微小缺陷有高灵敏度要求的场合。
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